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超声扫描显微镜

测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷,如空洞、分层、裂缝、异物等; 金属方向:Steel, Nonferrous Metal Materials, Founding Materials, Forging, Weld Zone 半导体材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone

应用
产品主要特点
  • 效率

     

  • 简易

     

  • 精确

     

  • 创新

     

 
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